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- TU Darmstadt (10)
- 18 Department of Electrical Engineering and Information Technology (10)
- Institute for Semiconductor Technology and Nano-Electronics (10)
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Endres, Ralf (2011)
Gate-Last-Prozessintegration und elektrische Bewertung von High-k-Dielektrika und Metall-Elektroden in MOS-Bauelementen.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Keyn, Martin (2018)
Untersuchung einer Herstellungstechnologie für Feldeffekt-Transistoren auf Basis von Kohlenstoffnanoröhren.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Krauss, Tillmann Adrian (2019)
Planar Electrostatically Doped Reconfigurable Schottky Barrier FDSOI Field-Effect Transistor Structures.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Noll, Dennis (2019)
Nanokristalline Graphen-Feldeffekttransistoren für Gassensor-Anwendungen.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Noll, Dennis ; Hönicke, Philipp ; Kayser, Yves ; Wagner, Stefan ; Beckhoff, Burkhard ; Schwalke, Udo (2024)
Transfer-Free In Situ CCVD Grown Nanocrystalline Graphene for Sub-PPMV Ammonia Detection.
In: ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018, 7 (7)
doi: 10.26083/tuprints-00020384
Article, Secondary publication, Publisher's Version
Rispal, Lorraine (2010)
Large Scale Fabrication of Field-Effect Devices based on In Situ Grown Carbon Nanotubes.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Weber, Jürgen (2008)
Eine vereinheitlichte Modellierungsmethodik für den Entwurf und den virtuellen Test gemischt analog/digitaler Komponenten.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Wessely, Frank (2011)
CMOS ohne Dotierstoffe: Neuartige siliziumbasierte Nanodraht-Feldeffekt-Bauelemente.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Wessely, Pia Juliane (2013)
Graphen-Transistoren: Silizium CMOS kompatible Herstellung für Anwendungen in der Nanoelektronik.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication
Zaunert, Florian (2009)
Simulation und vergleichende elektrische Bewertung von planaren und 3D-MOS-Strukturen mit high-k Gate-Dielektrika.
Technische Universität Darmstadt
Ph.D. Thesis, Primary publication