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Wank, Andreas ; Thümmel, Christoph ; Suchanek, Kai ; Metternich, Joachim (2018):
Anforderungen an eine Methode zur Aufnahme AutoID-relevanter Prozess- und Produktmerkmale in der Produktion.
Darmstadt, [Report]
Wank, Andreas ; Krüger, Jon ; Stähle, Justus ; Metternich, Joachim (2018):
Flächenauswahlprozess und dynamische Optimierung zur Ermittlung von wertstromdurchgängigen Autoidentifikationstechnologien.
Darmstadt, [Report]
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