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Wahl, Claudia (2002):
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie.
Darmstadt, Technische Universität,
[Ph.D. Thesis]
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Wahl, Claudia (2002):
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie.
Darmstadt, Technische Universität,
[Ph.D. Thesis]