Diese Arbeit beschäftigt sich mit der Analyse und der numerischen Modellierung von Antennensystemen für induktive Energieübertragungsstrecken (engl. Inductive Power Transfer (IPT)). Praktische Beispiele umfassen z. B. die drahtlose Versorgung von mobilen Geräten in der Unterhaltungselektronik oder Radiofrequenz-Identifikationssysteme (RFID) in der Logistik. Die physikalisch relevanten Eigenschaften der zu untersuchenden Antennenstrukturen, wie z. B. eine genaue Induktivitätsberechnung oder die präzise Modellierung von Skin- und Proximity-Effekten, werden mit Hilfe numerischer Verfahren realisiert. Gleichzeitig wird eine Beschreibung auf Ersatzschaltbildebene ermöglicht, die auf dem Konzept gekoppelter Induktivitäten beruht. Dazu werden reduzierte Ersatzschaltbilder der einzelnen Antennen mit Hilfe einer geeigneten Paramterextraktionstechnik bestimmt. Die numerischen Simulationen dieser Arbeit bedienen sich der Methode der partiellen Elemente (engl. Partial Element Equivalent Circuit (PEEC)). Die PEEC-Methode ist besonders geeignet für die Simulation von IPT-Systemen, da effiziente Diskretisierungen für lange und dünne Leiterstrukturen erreicht und die auftretenden elektromagnetischen Kopplungseffekte in Ersatzschaltbilder überführt werden können. Weiterhin werden Welleneffekte in PEEC-Systemen traditionell durch quasistationäre Annahmen der Maxwellschen Gleichungen vernachlässigt. Dies ist für die Modellierung von IPT-Systemen sinnvoll, da die Rechenzeit ohne wesentliche Genauigkeitsverluste verringert wird. Die Arbeit beginnt mit der Darstellung einiger elektrodynamischer Grundlagen, wobei eine neue Lorenz-quasistatische (LQS) Formulierung hergeleitet und in bestehende Ansätze eingeordnet wird. Nach einer Präsentation der wesentlichen Eigenschaften von IPT-Systemen wird die PEEC-Methode in einer im Vergleich zur Standardformulierung leicht veränderten Form hergeleitet, um den verschiedenen Näherungsverfahren in einer vereinheitlichten Notation Rechnung zu tragen. Die Systemfunktionalität wird hinsichtlich Parametertoleranzen untersucht, wobei die adjungierte Sensitivitätsanalyse auf die PEEC-Methode angewendet und in Verbindung mit Skin-Effekt-Problemstellungen näher untersucht wird. Der präsentierte Modellierungsansatz wird sowohl mit Messungen als auch mit Simulationen auf Basis der Finite-Elemente-Methode (FEM) für ein typisches RFID-Spulensystem bestätigt. Im Vergleich zu der FEM können mit Hilfe der spezialisierten PEEC-Methode bemerkenswerte Geschwindigkeitsgewinne erzielt werden, wobei die auftretenden Abweichungen typischerweise wenige Prozent nicht überschreiten.