Die dynamische Wechselwirkung eines Elektrons mit einem Objekt führt insbesondere im Falle hochaufgelöster elektronenmikroskopischer Bilder (HREM) sehr schnell zu nicht mehr intuitiv verständlichen Kontrastverteilungen im Bild. Da das Elektron beim Durchqueren des Objektes die gesamte 3-dimensionale Struktur des Objektes sieht, sind die nachfolgend aufgenommenen Bilder keine einfachen 2-dimensionalen geometrischen Projektionen dieser Struktur auf die Bildebene. Die Bildintensität enthält nämlich in nichtlinearer Weise die Information über die 3-dimensionale Struktur des Objektes. Diese komplizierte Sachlage wird in Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopen infolge der Bildfehler des elektronenoptischen Abbildungssystems noch weiter verschlimmert. Daher ist es in der Elektronenmikroskopie seit langem üblich, sich einen Überblick über die hier herrschenden Kontrastvariationen mit Hilfe von Bildsimulationsprogrammen zu verschaffen, um zu sehen, ob sich damit der Bildkontrast reproduzieren, und sich somit die Interpretation der Kontrastverteilungen im experimentellen Bild bestätigen läßt. Von den dabei für die Simulation des Objektanteils herangezogenen Methoden hat sich das sogenannte elastische Multislice-Verfahren als das flexibelste Verfahren erwiesen. Die Bildinterpretation mit Hilfe des elastischen Multislice-Verfahrens beschreibt aber die im Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop vorliegenden Verhältnisse nur unvollkommen. Diese bekannte Form des Multislice-Verfahrens berücksichtigt nämlich ausschließlich elastische oder kohärente Streuprozesse im Objekt. Neben diesen gibt es aber auch noch inelastische Streuprozesse, die einen zusätzlichen Einfluß auf die Kontrastverteilungen im nachfolgenden Bild oder Beugungsbild des Objektes haben. Um diesen Einfluß quantitativ zu erfassen ist eine theoretische Beschreibung der elastischen und inelastischen Streuvorgänge für die Verhältnisse, wie sie in Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopen vorliegen, notwendig. Außerdem muß man beachten, daß das Objekt im Elektronenmikroskop partiell kohärent beleuchtet wird. Beide Situationen lassen sich mit Hilfe der Dichtematrix für die Verteilung der Koordinaten des Elektrons beschreiben. Die Beschreibung der Eigenschaften des Elektrons mit Hilfe einer Dichtematrix bringt dabei den quantenmechanischen Umstand zum Ausdruck, daß sich das Elektron nach der Wechselwirkung mit dem Objekt i. allg. mehr in einem definierten Zustand befindet. (,,Verschränkung"). Die adäquate Berücksichtigung dieses Umstandes ergibt in der Folge die gesuchte Verallgemeinerung des Multislice-Verfahrens für kohärente Streuprozesse auf inkohärente Streuprozesse. Fernerhin werden auch die Gesichtspunkte, die der effizienten numerischen Implementation dieses verallgemeinerten Multislice-Verfahrens zugrundeliegen, detailiert erörtert.