Browse by Person
![]() | Up a level |
Number of items: 1.
Knapp, Michael (2002):
Weiterentwicklung und Anwendung diffraktometrischer Methoden zur Materialcharakterisierung mit Synchrotronstrahlung.
Darmstadt, Technische Universität,
[Ph.D. Thesis]
![]() | Up a level |
Knapp, Michael (2002):
Weiterentwicklung und Anwendung diffraktometrischer Methoden zur Materialcharakterisierung mit Synchrotronstrahlung.
Darmstadt, Technische Universität,
[Ph.D. Thesis]