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  5. Review - Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy
 
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2020
Zweitveröffentlichung
Artikel
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Review - Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy

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Hauptpublikation
Klein_2020_ECS_J._Solid_State_Sci._Technol._9_093012.pdf
CC BY-NC-ND 4.0 International
Format: Adobe PDF
Size: 3.43 MB
TUDa URI
tuda/7611
URN
urn:nbn:de:tuda-tuprints-197875
DOI
10.26083/tuprints-00019787
Autor:innen
Klein, Andreas ORCID 0000-0001-7463-1495
Jaegermann, Wolfram
Kurzbeschreibung (Abstract)

The growth of two-dimensional layered chalcogenides on two- or three-dimensional substrates, named (quasi) van der Waals epitaxy, has been pioneered by the group of A. Koma at Tokyo University in 1985. The passive nature of the van der Waals surface is important in energy converting interfaces as solar cells and photoelectrochemical cells. For those reasons the two-dimensional materials have intensively been studied by us in the early 90s of the last century. The growth of different 2D/2D, 2D/3D and 3D/2D heterostructures has been studied with an emphasis on the electronic structure of the materials and their interfaces, which have been characterized using photoelectron spectroscopy and are reviewed in this contribution. Our work includes a discussion of the coupling of electronic states across the interfaces, which influences the growth behavior and determines energy band alignment. The weak electronic coupling allowed the first experimental determination of the band structure of a single layer of a 2D chalcogenide, namely WS₂. We also review the electronic structure of a GaSe half-sheet terminated Si(111) surface, which provides an ideal platform for the integration of 2D materials with Si microelectronics.

Sprache
Englisch
Fachbereich/-gebiet
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenstruktur von Materialien
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
DDC
600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 600 Technik
600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Institution
Universitäts- und Landesbibliothek Darmstadt
Ort
Darmstadt
Titel der Zeitschrift / Schriftenreihe
ECS Journal of Solid State Science and Technology
Jahrgang der Zeitschrift
9
ISSN
2162-8777
Verlag
IOP Publishing
Datum der Erstveröffentlichung
2020
Verlags-DOI
10.1149/2162-8777/abb750
PPN
495587834

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