Graphen gilt als eines der vielversprechendsten Materialien für zahlreiche Anwendungsbereiche wie z.B. für Elektronik, Photonik, Membranen, Sensoren, Wärmeableiter, Schmiermittel und viele mehr [1, 2]. Neben den besonderen elektronischen Eigenschaften, sind insbesondere auch die außergewöhnlichen mechanischen Eigenschaften von Graphen in den Fokus der Wissenschaft gerückt. So konnte beispielsweise gezeigt werden, dass defektfreies Graphen ein enorm hohes Elastizitätsmodul von etwa 1 TPa [3] aufweist. Wenig erforscht ist allerdings der lokale Einfluss von Defekten auf die nanomechanischen Eigenschaften von Graphen. Als mögliche Ursache für dieses Defizit kommen damit verbundene Herausforderungen in Frage wie z.B. (i) die Abbildung von Graphen mit atomarer Auflösung, (ii) die gleichzeitige Analyse von Probeneigenschaften parallel und senkrecht zur Probenebene, (iii) die Herstellung adsorbatfreier Graphenproben, sowie (iv) das gezielte Einbringen von Defekten. Um die genannten Herausforderungen zu überwinden, wurde im Rahmen dieser Arbeit zunächst eine Rasterkraftmikroskopie-basierte Methode entwickelt, die die Abbildung von Graphen mit atomarer Auflösung an Luft unter Umgebungsbedingungen ermöglicht. Zudem wurde die Methode dahingehend entwickelt, dass eine Quantifizierung von Wechselwirkungskräften sowohl senkrecht als auch parallel zur Graphenoberfläche erfolgen kann. Dies ist insbesondere wichtig, um die Gesamtheit aller elastischen Konstanten von Graphen zugänglich zu machen. Eine wichtige Erkenntnis dieser Arbeit ist, dass bereits kurz nach der Herstellung von Graphenproben verschiedene Adsorbat-Typen auf der Graphenoberfläche beobachtet werden konnten. Deshalb erfolgte mithilfe der entwickelten multifrequenten Rasterkraftmikroskopie-Methode eine detaillierte Analyse der Adsorbate. Des Weiteren wurde überprüft, inwiefern eine Behandlung mit Sauerstoff-Plasma dazu dienen kann, eine unter Laborbedingungen gelagerte Graphenprobe von Adsorbaten zu befreien. Dies ist eine Grundvoraussetzung für das gezielte Einbringen von Defekten, sowie für die Untersuchung von deren Einfluss auf die lokalen nanomechanischen Eigenschaften. Die Auswirkung der Sauerstoff-Plasma Behandlung auf verschiedene Graphit-/Graphenproben wurde zusätzlich mittels Raman-Spektroskopie untersucht.