Diese Arbeit trägt zum Verständnis und zur Kontrolle der Oberflächeneigenschaften von flüssig-prozessiertem Nickeloxid (NiO) bei und hilft allgemein bei der korrekten Interpretation von Photoelektronenspektren von NiO-basierten Proben. Das Metalloxid-Halbleiter-Material NiO weist ausgezeichnete ladungsselektive Eigenschaften auf, weswegen es häufig in Lochtransportschichten in optoelektronischen Bauelementen verwendet wird. Allerdings ist die Kontrolle der Eigenschaften von NiO äußerst schwierig, insbesondere wenn es aus Lösung verarbeitet wird. In dieser Arbeit werden daher die chemische Zusammensetzung und die elektronischen Eigenschaften von flüssigprozessiertem NiO in Abhängigkeit von den Herstellungsparametern charakterisiert und die Auswirkungen von Oberflächenmodifikationen in Form von Sauerstoffplasmabehandlung und Funktionalisierung mit selbstorganisierten Monolagen eingehend analysiert. Die gewonnenen spektroskopischen Daten werden mit den Eigenschaften entsprechender organischer Solarzellen auf NiO-Basis korreliert und Schlussfolgerungen bezüglich Grenzflächen Designprinzipien abgeleitet. Die Ergebnisse ermöglichen eine optimierte Anwendung von flüssigprozessierten NiO-Schichten in optoelektronischen Komponenten.