Entwicklung und Evaluierung großflächiger Dünnschichtmesstechnik am Beispiel gedruckter organischer Leuchtdioden

Um eine größere Bandbreite an OLED-Materialien, unter anderem auch photolumineszente, messen zu können, wird im Rahmen dieser Arbeit bestehende reflektometrische Messtechnik neu ausgelegt und weiterentwickelt; darüber hinaus werden neuartige Messtechnikkonzepte auf Basis des transmittierten Lichtes entwickelt. Durch die Weiterentwicklung der Messtechnik werden auch erstmalig komplexe Mehrschichtstapel verschiedener OLED-Materialien großflächig charakterisiert. Die mittels der neuen Messtechnik messbare Fläche beträgt bis zu 15000

In order to be able to measure complex multilayer structures and a wide variety of materials, especially photo luminescent materials, already existing reflectometry measurement setups are newly designed and further developed. Also new measurement approaches on the basis of measuring the amount of absorbed and transmitted light are set up and characterized. Using these further developed setups complex multilayer structures consisting of different OLED-materials were measured on a large area for the first time. With this measurement setup an area of up to 150000